현미경용 PIFOC® 대물렌즈 및 PInano® 샘플 스캐너

현미경용 PIFOC® 대물렌즈 및 PInano® 샘플 스캐너

PIFOC® 및 PInano® 시리즈의 피에조 플렉셔 스테이지 및 대물렌즈 스캐너는 포지셔닝 및 스캐닝 작업에서 높은 동적 성능을 제공합니다. XY 시편을 광축 기준으로 평행 및 수직 방향으로 위치시키는 솔루션과 대물렌즈의 Z 초점 조정에 적합한 솔루션이 표준 제품으로 제공됩니다.

스테이지는 컨트롤러 및 필요한 모든 연결 케이블과 소프트웨어와 함께 시스템 형태로 편리하게 제공되기도 합니다. 모든 피에조 시스템과 마찬가지로, 현미경용 스테이지와 스캐너는 사전 보정된 상태로 측정 로그와 함께 제공됩니다.

현미경용 PIFOC® 대물렌즈 스캐너

NEW

P-725.xCDE1S PIFOC Scanner System for Microscope Objectives

Dynamic focus scanner of the entry-level class for travel ranges up to 400 µm, incl. controller

P-725.xCDE2 PIFOC Focus Scanner for Microscope Objectives

Dynamic Scanning with Travel Ranges of 100 µm, 400 µm, or 800 µm

P-726 PIFOC High-Load Focus Scanner

Highly Dynamic Focus Scanner with Long Travel Range for Heavy Objectives

V-308 Voice Coil PIFOC Focus Drive for Objectives

High-dynamics positioner for microscope objectives

ND72Z2LAQ PIFOC Objective Scanning System 2000 µm

Nanometer Resolution and Fast Step-and-Settle

P-725.CDD PIFOC High Dynamics Piezo Scanner

Nanopositioner and Scanner for Microscope Objectives

현미경용 수직 샘플 스테이지

P-737 PIFOC Specimen Z Positioners

With Large Aperture and Low Profile

P-736 PInano® Z Microscope Scanner System

Inexpensive, with Low Profile

PInano® 피에조 플렉셔 XY(Z) 스캐너

P-545.xR8S PInano® XY(Z) Piezo System

Inexpensive Nanopositioning System for High-Resolution Microscopy

P-545.xC8S PInano® Cap XY(Z) Piezo System

Capacitive Position Measuring for Super-Resolution Microscopy

P-545.3D8S PInano® Trak Piezo Tracking System

Fast XY(Z) Stage for High Dynamics Microscopy